Израчунајте поузданост ЛЕД диода према стандардима компоненти
Суочени са жестоком тржишном конкуренцијом, инсајдери у индустрији жељни су увођења скупа стандарда поузданости ЛЕД диода, који се могу користити не само за процену поузданости, већ и за идентификовање предности и недостатака производа, како би се осигурао здрав и уредан развој ЛЕД индустрија моје земље. Као што је свима познато, многи стандарди поузданости неких електронских компоненти (укључујући полупроводничке уређаје) и њихових производа за примену примењују се и на ЛЕД диоде.
С обзиром на ову ситуацију, потребно је укратко увести неколико стандарда за електронске компоненте који се могу користити за процену поузданости ЛЕД диода, како би се сви упутили да уче и савладају, и да их могу применити на ЛЕД диоде. Ови стандарди су дуго објављивани, а временски распон је био око 30 година од 1980 -их до данас. Као традиционални стандарди, годинама су тестирани временом и праксом. Међу стандардима који су овде уведени, неки су у потпуности применљиви на ЛЕД диоде, а неки се могу користити као референца и основа за формулисање стандарда везаних за ЛЕД.
У данашње време бело ЛЕД осветљење је било практично и индустријализовано, а његова светлосна ефикасност је надмашила традиционалне сијалице и флуоресцентне сијалице, у потпуности показујући карактеристике уштеде енергије и заштите животне средине.
Са све распрострањенијом применом ЛЕД осветљења, његова поузданост привлачи све већу пажњу.
1. Општа правила за испитивање убрзаног века трајања електронских компоненти (ГБ 2689.1-81 која се називају општа правила)
Овај стандард се користи за квантитативну процену поузданости електронских компоненти. Приликом формулисања техничких стандарда производа са захтевима поузданости, може се обезбедити јединствена метода за испитиване производе. Радни век електронских компоненти, посебно полупроводничких уређаја, је чак стотине хиљада сати. Метода термичког убрзања се генерално користи за добијање животне вредности, што је такозвани тест убрзаног века трајања. [ГГ] општи принципи [ГГ] куот; наводи детаље имплементације термички убрзаног животног теста, који укључује: узорковање, напрезање теста, одређивање времена квара, испитивање параметара, анализу квара, процену ефикасности квара, обраду података, извештаје о испитивању итд. Они су у потпуности применљиви на ЛЕД уређаје.
2. Метода процене века трајања електронских компоненти (ГБ 2689.3-81 и ГБ 2689.4-81)
Овим стандардом се утврђују методе и поступци за обраду података испитивања убрзаног века трајања електронских компоненти. Према броју узорака, он се дели на две методе: једноставну линеарну непристрасну процену и најбољу линеарну непристрасну процену. Пошто је тест у периоду истрошености уређаја, тест се не може прекинути док се не достигне одређени број кварова, па се назива и [ГГ] "фиксни број [ГГ" ". Помоћу ове методе може се добити више параметара поузданости, као што су просечан век трајања, стопа отказа и енергија активирања уређаја. Ово је уобичајено коришћена метода у инжењерингу за процену века трајања електронских компоненти, а применљива је и на ЛЕД уређаје.
3. Метода вредновања издржљивости полупроводничких уређаја (ГБ/Т 4589.1-2006)
Овај стандард је део система оцењивања квалитета електронских компоненти Међународне електротехничке комисије. Он одређује опште процедуре и опште принципе процене квалитета полупроводничких уређаја, укључујући испитивања издржљивости. Узорковање према дозвољеној стопи кварова серије, трајност ЛЕД уређаја односи се на дозвољени број кварова у датом времену под наведеном температуром околине ЛЕД уређаја. Ако број кварова прелази дозвољени број кварова, сматраће се неквалификованим (одбијање)). Пошто се тест спроводи у датом времену, тест ће бити прекинут када истекне време, па се назива и скраћење времена. Ова метода може оценити квалитет уређаја у кратком времену. Трајност ЛЕД уређаја углавном се огледа у деградацији излазне светлости (светлосни ток, температура боје, индекс приказивања боје, толеранција боје и други параметри) у датом времену под одређеном температуром околине.
4. Метода процене века трајања производа за ЛЕД апликације (ГБ 5080.4-85)
Ова метода се користи за процену поузданости електронске опреме, али се метода временске цензуре у овом стандарду може користити за добијање просечног века трајања без грешака и стопе отказа производа за ЛЕД апликације, као и доње границе века трајања под датим нивоом поузданости може се добити.
5. Метода графичке процене теста трајања ЛЕД уређаја (ГБ 2689.2-81)
Употреба методе процене Веибулл -овог дијаграма дистрибуције основна је вештина коју морају савладати техничари ангажовани на тестирању животног века ЛЕД -а.
Овај стандард се углавном користи за процену да ли су подаци о животном тесту са фиксним бројем цензурирани абнормални, или су резултати обраде података тачни.
Веибулл -ова метода процене карте дистрибуције се обично користи у инжењерингу. Као алат за процену да ли је тест исправан, има снажну универзалност и очигледно је применљив на ЛЕД уређаје.
Горе наведених пет стандарда поузданости за електронске компоненте не само да могу играти улогу у формулисању стандарда поузданости ЛЕД диода, већ могу послужити и као веза између прошлости и будућности. Заједно са најављеним ЛЕД стандардима, они могу постати и прописи за пречишћавање тржишта ЛЕД диода.
Са напретком и развојем ЛЕД технологије, на основу традиционалних стандарда, биће више нових стандарда ЛЕД индустрије и националних стандарда који ће пратити здрав и уредан развој ЛЕД индустрије.
Дугогодишња пракса је показала да је горе наведених пет стандарда изводљиво од уређаја до производа за примену и да су постали основа за произвођаче компоненти електронске индустрије да формулишу стандарде производа и техничке спецификације, а применљива је и процена поузданости ЛЕД диода. За оне који нестрпљиво ишчекују увођење стандарда поузданости ЛЕД -а, препоручује се да прво разумеју ове стандарде и науче да их флексибилно примењују.
